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交流互鑒 | 熱烈歡迎XOS創始人David Gibson、佳譜集團首席科學家陳澤武博士蒞臨我司參觀
發布時間:2024-03-28 10:00:34 點擊次數:526557

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3月26日,XOS創始人David Gibson、佳譜集團首席科學家陳澤武博士等一行蒞臨公司蘇州總部參觀交流,探討X熒光光譜儀行業發展。公司董事長李小福等人陪同參觀并交流X射線光學技術經驗。

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關于XOS公司

XOS公司總部位于紐約, 隸屬于美國丹納赫公司(NYSE:DHR)。作為一家全球領先的關鍵性應用材料和元素分析設備供應商,為重視控制材料質量與性能的行業監管部門和客戶提供擁有先進技術的分析設備。XOS公司擁有強大的研發和設計能力,與美國的眾多研究機構有合作關系,曾經參與了許多著名的課題設計,包括美國宇航局的行星元素探測計劃(XRF方法)等。


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陳澤武博士

佳譜集團首席科學家

曾任美國XOS公司研發總監

發明了 MWDXRF和HPXRF的兩種XRF技術路線及其系列產品

1998年發明了高效雙曲面彎晶

在中國、美國、日本和歐盟等國家獲得20多個發明專利

陳澤武博士帶領其團隊首創和引領了雙曲面彎晶在X射線熒光光譜儀的廣泛應用


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他們一行人在李小福先生等人的陪同下,參觀了公司的展廳,生產車間,研發室等,同時也向他們介紹了公司的發展成就、最新研發成果等情況。

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參觀結束后,就各自公司產品的技術優勢和應用領域進行了深入友好的交流與探討。






本次來訪為進一步交流合作打下了扎實的基礎,提升了雙方在X射線應用技術的交流層次,為雙方持續深化合作指明了方向。在未來,我們將繼續致力于推動X熒光光譜儀技術的發展,為客戶提供精準需求的元素分析解決方案,驅動品牌價值可持續增長,創造蓬勃美好未來!


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